Kasper Haak

  • Maschinenbau, Physik und Elektrotechnik
  • Patentanwalt, Senior-Mitarbeiter
  • Den Haag (NL)
  • +31 70 416 68 40
  • k.haak@vo.eu
  • "Es ist eine Herausforderung für mich, Patentrechte als geeignete Anlage für ein Unternehmen zu erlangen."
    • Biografie

    • 2001 begann Kasper Haak seine Karriere im Patentbereich, nachdem er eine Reihe von Forschungsaktivitäten bei einem Hersteller von Druckersystemen durchgeführt hatte.

      Seine patentbezogenen Spezialgebiete liegen vornehmlich in den Bereichen Radar- und Bildtechnik, Plasmatechnologie, elektrische und elektronische Systeme, Computersysteme und Systeme für Telekommunikationsnetzwerke, medizinische Systeme, Mechatronik und Landwirtschaftsmaschinen.

      Kasper Haak beschäftigt sich mit der Ausarbeitung und Erteilung von Patentanmeldungen, Beratung und Verletzungsverfahren. Zu seinen Kunden zählen multinationale Konzerne, wissenschaftliche Institute, mittelständische und kleine Unternehmen.

      Als Tutor an der SBO und CEIPI betreut Kasper Haak zukünftige Patentanwälte bei ihren Vorbereitungen auf die niederländische Patentanwaltsprüfung und auf die Europäische Eignungsprüfung.

    • Berufserfahrung

    • Patentanwalt, V.O. (2001-heute)
    • Océ Research und Development, jetzt Canon (1999-2001)
    • Ausbildung

    • PhD in Electrotechnik, Technische Universität Delft (1999)
    • Msc in Electrotechnik, Technische Universität Delft (1993)
    • Qualifikationen

    • Europäischer Patentanwalt
    • Niederländischer Patentanwalt
    • Spezialgebiete

    • Anlagen
    • Bauindustrie
    • Bauingenieurwissenschaften
    • Bauphysik
    • Biomedizinische Technologie
    • Computer
    • Elektrotechnik
    • Energie und Nachhaltigkeit
    • Ergonomie
    • Fahrzeuge
    • Geophysik
    • Gesundheitsprodukte
    • Halbleiter
    • Informatik
    • Informationstechnologie
    • Konsumartikel
    • Landwirtschaft
    • Maschinen und Instrumente
    • Maschinenbau
    • Mathematik
    • Mechanik
    • Mechatronik
    • Medizinische Technik
    • Nanotechnologie
    • Optik
    • Packmittel
    • Physik
    • Sensoren
    • Systeme
    • Technik
    • Telekommunikation
    • Vorrichtungen / Elektrotechnik
    • Publikationen

    • Haak, K.F.I. (1999) Multi-frequency nonlinear profile inversion methods. Delft University Press.
    • Haak, K.F.I., Van den Berg, P.M. and Kleinman, R.E. (1998): Contrast source inversion method using multi-frequency data. Proceedings of IEEE Antennas and Propagation Society International symposium 1998, p. 710-713.
    • Van Stralen, M.J.N., Haak, K.F.I. and Blok. H. (1997) On the classification of discrete modes in lossy planar waveguides: the modal analysis revisited. Special Issue of the Optical and Quantum Electronics Journal, Vol. 29, No. 2, p. 243-262.
    • Haak, K.F.I., Van den Berg, P.M. and Kleinman, R.E. (1996): Modified gradient profile inversion using multi-frequency data. Proceedings of IEEE Antennas and Propagation Society International symposium 1996, p. 2152-2155
    • Van den Berg, P.M. and Haak, K.F.I. (1996): Profile inversion by error reduction in the source type integral equations. Proceedings of a symposium held in honour of Professor dr. A.T. de Hoop, 1996, p. 87-98.
    • Haak, K.F.I. and Kooij, B.J. (1996): Transient acoustic diffraction in a fluid layer. Wave motion. Volume 23. Number 2. p. 139-164.
    • Nebentätigkeiten

    • Drei-Tages-Kurs “How to draft a European patent application” chinesischen Patentanwaltskanzlei (2008), Peking
    • Sprachen

    • Englisch
    • Niederländisch