Gijs de Iongh studierte Maschinenbau (Bachelor) und System- und Kontrolltechnik (Master) an der Technischen Universität Delft. Die Forschung im Rahmen seines Abschlussprojekts erfolgte im Bereich der Adaptiven Optik und insbesondere der Wellenfronttechnologie (wavefront shaping) für Lichtscheibenmikroskopie und optische Faserendoskopie. Außerhalb des Basiscurriculums folgte Gijs de Iongh Fächern im Bereich der Optik, der Signalverarbeitung und des bildgebenden Verfahrens und  während seines Aufenthalts in Stockholm spezialisierte er sich auf Medizintechnik.

Als “European Litigator” ist Gijs berechtigt, als vertreter vor dem Einheitlichen Patentgericht (Epg, engl. UPC) aufzutreten.