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‘Die besten Erfindungen sind im Nachhinein oft offensichtlich.’
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Gijs de Iongh

Gijs de Iongh

  • Ingenieurwesen
  • Europäischer und Niederländischer Patentanwalt, European Patent Litigator
  • Senior Associate
T +31 30 785 63 75

Gijs de Iongh studierte Maschinenbau (Bachelor) und System- und Kontrolltechnik (Master) an der Technischen Universität Delft. Die Forschung im Rahmen seines Abschlussprojekts erfolgte im Bereich der Adaptiven Optik und insbesondere der Wellenfronttechnologie (wavefront shaping) für Lichtscheibenmikroskopie und optische Faserendoskopie. Außerhalb des Basiscurriculums folgte Gijs de Iongh Fächern im Bereich der Optik, der Signalverarbeitung und des bildgebenden Verfahrens und  während seines Aufenthalts in Stockholm spezialisierte er sich auf Medizintechnik.

Als „European Litigator“ ist Gijs berechtigt, als vertreter vor dem Einheitlichen Patentgericht (Epg, engl. UPC) aufzutreten.

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Berufserfahrung

  • Patentanwalt, V.O. (Juni 2022)
  • Patentanwaltskandidat, V.O. (November 2017)

Ausbildung

  • BSc Maschinenbau, Technische Universiteit Delft
  • MSc Systems & Control, Technische Universiteit Delft
  • Minor, Biomedial Engineering, Royal Institute of Technology in Stockholm

Directories

  • Recognized as ‚Rising Star‘ (2025) by Managing IP

Publikationen

  • Dean Wilding, Gijs de Iongh, Oleg Soloviev, Paolo Pozzi, Gleb Vdovin, Michel Verhaegen, „Rapid identification of coherent pupil functions from multiple intensity measurements“, Proc. SPIE 10416, Optical Coherence Imaging Techniques and Imaging in Scattering Media II, 104160G (1 August 2017);

Sprachen

  • Niederländisch
  • Englisch
  • Deutsch(Basis)
  • Französisch (Basis)
  • Schwedisch(Basis)
  • Spanisch(Basis)

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Lutz Keydel

Lutz Keydel

  • Europäischer und Deutscher Patent- und Markenanwalt, European Patent Litigator
  • Associate
+49 89 890 636 936
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